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Description de Produit Microscope à force atomique AFM1000 prix d'usine Brève introduction de microscope à force atomique: Microscope à force atomique (AFM), un instrument analytique qui peuvent être utilisées pour étudier la structure de surface de matériaux solides, y compris les isolants. Il étudie la structure de surface et les propriétés d'une substance par la détection de la extrêmement faibles interactions interatomiques entre la surface de l'échantillon à tester et d'un micro-force élément sensible. Sera une paire de force faible extrêmement sensible de micro-fin de cantilever fixe, l'autre extrémité de la petite astuce à proximité de l'échantillon, puis il va interagir avec lui, la force sera faire de la micro-déformation cantilever ou le mouvement change d'État. Lors de la numérisation de l'échantillon, le capteur peut être utilisé pour détecter ces changements, nous pouvons obtenir la distribution de la force d'informations, de manière à obtenir la morphologie de surface de la nano-informations de résolution et la rugosité de surface d'informations.
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Le mode contact consiste à utiliser les forces répulsives: la pointe appuie sur la surface, elle est donc repoussée du fait du principe de Pauli, et le levier est dévié. La rétroaction s'effectue sur la mesure de la direction de la déviation. Le mode Tapping, de loin le plus utilisé, consiste à faire vibrer le levier à sa fréquence propre de résonance (typiquement de l'ordre de la centaine de kHz), avec une certaine amplitude. Lorsque la pointe interagit avec la surface, l'amplitude décroît (parce que la fréquence de résonance change). La rétroaction se fait alors sur l'amplitude d'oscillation du levier. Le mode modulation de fréquence a été initialement utilisé avec en moyenne des forces attractives, avec des exemples de résolution atomique. Plus délicat à gérer, il permet contrairement au mode modulation d'amplitude de séparer directement l'effet des forces conservatives et dissipatives. Il est essentiellement utilisé sous vide. La rétroaction s'effectue soit sur la déviation soit sur la fréquence de résonance..